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SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

S5 Series

S605 Surface Particle Counter (Portable)

파티클 채취용 재료/필름들

SPro 자동스캔

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SMD 시리즈 (휴대형)

SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components


Jedex Inc. registered a patent for an adhesive extraction method extraction material and a particle counter using it about 10 years before the SEMI E195 standard was established, and began sales, and continues to supply innovative devices and materials.


Jedex Inc 는 SEMI E195 규격이 제정되기 10여년전에 점착제 채취방식의 채취재료 와 이를 이용한 파티클 계수장치의 특허를 등록하고 판매를 시작하였으며 지속적인 고효율 장치와 재료를 공급하고 있습니다. 항상 먼저 앞서가는 제품을 먼저 만나 버싲시요.

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Products List

S5 Series

S5 시리즈

낙하입자 관리 , 공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 표면입자관리 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

S605 Surface Particle Counter (Portable)

Portable Surface Particle Counter

공정 모니터링 , 금속입자 검출 평가 , 제조장치 크리닝 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 반도체용 트레이, 포장재 , Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

파티클 채취용 재료/필름들

Adhesive Replacement Substrate.

SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

SPro 자동스캔

SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)

제조장치 청정도 , Gases , Glass, Glass Wafers , 공정 모니터링 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , Inks, Photoresists, Waters , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )

재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , Silicon Wafers (Bare, Coated) , Glass, Glass Wafers , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 금속표면 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 액중, 액조의 입자 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

SMD 시리즈 (휴대형)

SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기

제조장치 청정도 , 2차전지 배터리 산업 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 반도체 패키징, 시험 공정 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , PCB용 재료, 박판 , Inks, Photoresists, Waters , 트레이, 매거진, 포장재 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 반도체용 트레이, 포장재 , 공정중 입자 모니터링 , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t..

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