Semiconductor FAB M7000 / M1000R25 (new) Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs .., Helmke Drum T700H Helmke Drum T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4 표면입자계수기-S시리즈 S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 ) SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. SPro 자동스캔 SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm) Recent Updates M7000 / M1000R25 (new) Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs .., T700H Helmke Drum T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4 S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 ) SPro 자동스캔 SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm) Applications 반도체산업 외부링크 디스플레이 산업 외부링크 연구 시험, 품질관리 외부링크 청정실(크린룸)제어 외부링크 PCB공정 외부링크 카메라 모듈/광학 외부링크 VDA19,ISO16232 외부링크 2차전지 배터리 외부링크 SEMI E195-0925 외부링크 제조장치 크리닝 FAB 공정용 장치/부품의 청정도 반도체 패키징, 시험 공정 반도체용 트레이, 포장재 Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. 제조장치 청정도 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) OLEDOS 제조 공정 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거 공정중 입자 모니터링 Silicon Wafers (Bare, Coated) Glass, Glass Wafers Gases Liquids and Waters 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 표면입자계수기 교정 트레이, 캐리어, 운반도구 금속표면 금속, 비금속 입자 분류 계수 낙하입자 관리 표면입자관리 청정용품, 방진의류 청정도 크린룸/청정실 크리닝 청소 제조장치 크리닝 PCB 표면 입자, 트레이 입자 Processing/Cleaning PCB용 재료, 박판 트레이, 매거진, 포장재 Inks, Photoresists, Waters 입자/청정도 시험 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) 액중, 액조의 입자 입자,청정도 시험 공정 모니터링 크리닝-장치표면,트레이,표면 금속입자 검출 평가 Upcoming Events We are there for you! 제덱스의 다가오는 전시회, 박람회 등 이벤트 일정을 안내해 드립니다. InterBattery 2026 코엑스 전 홀 2026.03.11 ~ 2026.03.13 SEDEX 2024 Coex Hall C&D(3F),SEOUL 2024.10.23 ~ 2024.10.25 K-Display 2024 한국디스플레이산업전시회 서울 COEX Hall A 2024.08.14 ~ 2024.08.16 2024 Web Open Ceremony Head office 2024.02.14 ~ 2024.02.14 K-Display 2023 한국디스플레이산업전시회 서울 COEX Hall A 2023.08.16 ~ 2023.08.18 K-Display 2022 한국디스플레이산업전시회 대한민국 서울(코엑스) · 전시회 2022.08.17 ~ 2022.08.19 News 2026-06-11 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다. pdf 안녕하십니까 제덱스 오염제어 솔루션 팀 입니다.첨부와 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다 많은 관심 부탁 드리겠습니다.감사합니다.=============================================================================== 보 도 자 료 JDX-PR-E195-2026 2026.MM.DD JEDEX(주) Contamination Control Lab press@jedex.com +82-70-8233-7766================================================================================ JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장─ 표면 입자 평가 통합 패키지 「S505 + DD Films」 공식 발표 ─ [경기 용인, 2026.MM.DD] 반도체 오염제어 전문 기업 JEDEX(주)(www.jedex.com)는SEMI E195 적합 표면 입자 평가 솔루션 라인업을 확장하여, 반도체 제조장치사(OEM/IDM)·부품 세정사·부품사·PM 서비스 사업자 등 가치사슬 4대 고객군을 통합 대응하는 패키지「S505 + DD Films」를 공식 발표했다. 이번 패키지는 SEMI E195(Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to AssessParticulate Surface Contamination on Critical Chamber Components) 가 규정하는 ARS(Adhesive Replacement Substrate) 방식을 단일 플랫폼에서 구현한다. 점착 필름으로챔버 핵심 부품(CCC) 표면의 입자를 비파괴 전사한 뒤 광학 장비로 정량 계수하며,SEMI E195 / ISO 14644-9 에 동시 적합한다. ▶ S505 주요 사양 - 상세사양 옵션에 따라 다릅니다. 별도 문의 부탁 드립니다. ▶ DD 시리즈 필름 (KR·CN·EU·JP·US·VN 6개국 특허) · 표준 권장: DD FAB-200HR (FAB 환경 등급 고점착·고청정) · 좁은 부위: DD-500HR (슬롯·홈·엣지 등 미세 부위 전용) · 분석 SW: MicroLabo Ver. 9.0.1 — Excel 즉시 출력 ▶ 4대 고객군 활용 시나리오 · 제조장치사 : 입고 검수 표준화 / OEM–Tier 1 계약상 청정도 스펙 정량 명시 · 세정사 : 세정 전후 정량 비교 / SEMI E195 보고서 출하 패키지 동봉 · 부품사 : 1~2 초 라인사이드 QC / ISO 14644-9 기반 CoA 보강 · PM 사업자 : 현장·PM 트럭 운영 / PM 직후 필름 1장으로 즉시 진단 JEDEX는 본 라인업을 시작으로 공기 중 입자 모니터링·Critical Component 검사·세정 솔루션까지 아우르는 청정도 종합 관리 포트폴리오로 단계적 확장을 이어갈계획이다. ■ JEDEX 소개 JEDEX(주)는 반도체 장비 부품의 표면·공기 입자 검출 솔루션을전문으로 하는 오염제어 기업으로, S505, DD Films, ParticlePRO, M 시리즈, MONACO등을 개발·공급한다. 본사 : 경기도 용인시 기흥구 흥덕1로 13 흥덕IT밸리 1612호. ──────────────────────────────────────────────────────────────────────────────── 문의: JEDEX(주) 오염제어연구소 press@jedex.com / +82-70-8233-7766 자료 : 제품 고해상도 사진·측정 데이터 샘플 제공 가능 / 데모 취재 협의 가능================================================================================ 2026-04-30 SEMI E195-0925 규격 적용 과 감사 말씀 SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components 고객 여러분께 드리는 감사의 말씀 제덱스(JEDEX)는 SEMI E195 표준이 제정되기 약 10년 앞선 2014년, 점착식 파티클 채집 필름과 이를 활용한 파티클 카운팅 기술의 특허를 등록하고 본격적인 상용화를 시작했습니다. 산업계의 표준이 마련되기 훨씬 이전부터 파티클 제어의 중요성을 내다보고 제덱스를 선택해주신 고객 여러분의 선견지명에 깊은 감사를 드립니다. 지난 26년간 축적해온 경험과 끊임없는 연구개발의 결실로 탄생한 제덱스의 제품은, 10여 년이라는 시간 동안 글로벌 선도 기업들의 청정 환경 관리 현장에서 검증받으며 파티클 제어 분야의 발전에 의미 있는 기여를 해왔습니다. 이 모든 성취는 제덱스 제품의 가치를 먼저 알아봐 주시고 함께 걸어와 주신 고객 여러분이 계셨기에 가능했습니다. 제덱스를 신뢰해주신 고객 여러분께서 제덱스 제품과 함께 이루어 오신 성공이 앞으로도 흔들림 없이 이어지기를 진심으로 기원합니다. 제덱스는 이에 보답하고자 업계를 선도하는 기술력을 더욱 정진시켜, 변화하는 산업 환경에 발맞춘 혁신 제품을 지속적으로 선보임으로써 고객 여러분의 든든한 동반자가 될 것을 약속드립니다. 언제나 제덱스와 함께해 주셔서 감사합니다. 2026-06-15 JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장 및 「S505 + DD Films」 발표 2026-03-05 InterBattery 2026 2025-12-08 M7000 ( 프로젝트 이름: M1000R25 버전) 출시 2025-12-04 S205 서비스 지원 종료(EoS) FAQ 2025-12-03 S205 기술지원 종료 및 보상판매 안내 2025-10-12 ParticlePro7, M2000, M200ESC 모델 단종 안내 2024-12-27 2024 SEDEX 현장인터뷰 | 제덱스 2024-10-30 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 K-Display 2024 한국디스플레이산업전시회 2024-03-27 SPro3005 and SPro301 정보 삭제 안내 2024-02-15 2024 Web 베타판 오픈 합니다. 2024-02-07 K-Display 2023 정보디스플레이대상 협회장상 수상 2023.
Semiconductor FAB M7000 / M1000R25 (new) Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs .., Helmke Drum T700H Helmke Drum T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4 표면입자계수기-S시리즈 S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 ) SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. SPro 자동스캔 SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)
Applications 반도체산업 외부링크 디스플레이 산업 외부링크 연구 시험, 품질관리 외부링크 청정실(크린룸)제어 외부링크 PCB공정 외부링크 카메라 모듈/광학 외부링크 VDA19,ISO16232 외부링크 2차전지 배터리 외부링크 SEMI E195-0925 외부링크 제조장치 크리닝 FAB 공정용 장치/부품의 청정도 반도체 패키징, 시험 공정 반도체용 트레이, 포장재 Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. 제조장치 청정도 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) OLEDOS 제조 공정 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거 공정중 입자 모니터링 Silicon Wafers (Bare, Coated) Glass, Glass Wafers Gases Liquids and Waters 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 표면입자계수기 교정 트레이, 캐리어, 운반도구 금속표면 금속, 비금속 입자 분류 계수 낙하입자 관리 표면입자관리 청정용품, 방진의류 청정도 크린룸/청정실 크리닝 청소 제조장치 크리닝 PCB 표면 입자, 트레이 입자 Processing/Cleaning PCB용 재료, 박판 트레이, 매거진, 포장재 Inks, Photoresists, Waters 입자/청정도 시험 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) 액중, 액조의 입자 입자,청정도 시험 공정 모니터링 크리닝-장치표면,트레이,표면 금속입자 검출 평가
Upcoming Events We are there for you! 제덱스의 다가오는 전시회, 박람회 등 이벤트 일정을 안내해 드립니다. InterBattery 2026 코엑스 전 홀 2026.03.11 ~ 2026.03.13 SEDEX 2024 Coex Hall C&D(3F),SEOUL 2024.10.23 ~ 2024.10.25 K-Display 2024 한국디스플레이산업전시회 서울 COEX Hall A 2024.08.14 ~ 2024.08.16 2024 Web Open Ceremony Head office 2024.02.14 ~ 2024.02.14 K-Display 2023 한국디스플레이산업전시회 서울 COEX Hall A 2023.08.16 ~ 2023.08.18 K-Display 2022 한국디스플레이산업전시회 대한민국 서울(코엑스) · 전시회 2022.08.17 ~ 2022.08.19
News 2026-06-11 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다. pdf 안녕하십니까 제덱스 오염제어 솔루션 팀 입니다.첨부와 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다 많은 관심 부탁 드리겠습니다.감사합니다.=============================================================================== 보 도 자 료 JDX-PR-E195-2026 2026.MM.DD JEDEX(주) Contamination Control Lab press@jedex.com +82-70-8233-7766================================================================================ JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장─ 표면 입자 평가 통합 패키지 「S505 + DD Films」 공식 발표 ─ [경기 용인, 2026.MM.DD] 반도체 오염제어 전문 기업 JEDEX(주)(www.jedex.com)는SEMI E195 적합 표면 입자 평가 솔루션 라인업을 확장하여, 반도체 제조장치사(OEM/IDM)·부품 세정사·부품사·PM 서비스 사업자 등 가치사슬 4대 고객군을 통합 대응하는 패키지「S505 + DD Films」를 공식 발표했다. 이번 패키지는 SEMI E195(Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to AssessParticulate Surface Contamination on Critical Chamber Components) 가 규정하는 ARS(Adhesive Replacement Substrate) 방식을 단일 플랫폼에서 구현한다. 점착 필름으로챔버 핵심 부품(CCC) 표면의 입자를 비파괴 전사한 뒤 광학 장비로 정량 계수하며,SEMI E195 / ISO 14644-9 에 동시 적합한다. ▶ S505 주요 사양 - 상세사양 옵션에 따라 다릅니다. 별도 문의 부탁 드립니다. ▶ DD 시리즈 필름 (KR·CN·EU·JP·US·VN 6개국 특허) · 표준 권장: DD FAB-200HR (FAB 환경 등급 고점착·고청정) · 좁은 부위: DD-500HR (슬롯·홈·엣지 등 미세 부위 전용) · 분석 SW: MicroLabo Ver. 9.0.1 — Excel 즉시 출력 ▶ 4대 고객군 활용 시나리오 · 제조장치사 : 입고 검수 표준화 / OEM–Tier 1 계약상 청정도 스펙 정량 명시 · 세정사 : 세정 전후 정량 비교 / SEMI E195 보고서 출하 패키지 동봉 · 부품사 : 1~2 초 라인사이드 QC / ISO 14644-9 기반 CoA 보강 · PM 사업자 : 현장·PM 트럭 운영 / PM 직후 필름 1장으로 즉시 진단 JEDEX는 본 라인업을 시작으로 공기 중 입자 모니터링·Critical Component 검사·세정 솔루션까지 아우르는 청정도 종합 관리 포트폴리오로 단계적 확장을 이어갈계획이다. ■ JEDEX 소개 JEDEX(주)는 반도체 장비 부품의 표면·공기 입자 검출 솔루션을전문으로 하는 오염제어 기업으로, S505, DD Films, ParticlePRO, M 시리즈, MONACO등을 개발·공급한다. 본사 : 경기도 용인시 기흥구 흥덕1로 13 흥덕IT밸리 1612호. ──────────────────────────────────────────────────────────────────────────────── 문의: JEDEX(주) 오염제어연구소 press@jedex.com / +82-70-8233-7766 자료 : 제품 고해상도 사진·측정 데이터 샘플 제공 가능 / 데모 취재 협의 가능================================================================================ 2026-04-30 SEMI E195-0925 규격 적용 과 감사 말씀 SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components 고객 여러분께 드리는 감사의 말씀 제덱스(JEDEX)는 SEMI E195 표준이 제정되기 약 10년 앞선 2014년, 점착식 파티클 채집 필름과 이를 활용한 파티클 카운팅 기술의 특허를 등록하고 본격적인 상용화를 시작했습니다. 산업계의 표준이 마련되기 훨씬 이전부터 파티클 제어의 중요성을 내다보고 제덱스를 선택해주신 고객 여러분의 선견지명에 깊은 감사를 드립니다. 지난 26년간 축적해온 경험과 끊임없는 연구개발의 결실로 탄생한 제덱스의 제품은, 10여 년이라는 시간 동안 글로벌 선도 기업들의 청정 환경 관리 현장에서 검증받으며 파티클 제어 분야의 발전에 의미 있는 기여를 해왔습니다. 이 모든 성취는 제덱스 제품의 가치를 먼저 알아봐 주시고 함께 걸어와 주신 고객 여러분이 계셨기에 가능했습니다. 제덱스를 신뢰해주신 고객 여러분께서 제덱스 제품과 함께 이루어 오신 성공이 앞으로도 흔들림 없이 이어지기를 진심으로 기원합니다. 제덱스는 이에 보답하고자 업계를 선도하는 기술력을 더욱 정진시켜, 변화하는 산업 환경에 발맞춘 혁신 제품을 지속적으로 선보임으로써 고객 여러분의 든든한 동반자가 될 것을 약속드립니다. 언제나 제덱스와 함께해 주셔서 감사합니다. 2026-06-15 JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장 및 「S505 + DD Films」 발표 2026-03-05 InterBattery 2026 2025-12-08 M7000 ( 프로젝트 이름: M1000R25 버전) 출시 2025-12-04 S205 서비스 지원 종료(EoS) FAQ 2025-12-03 S205 기술지원 종료 및 보상판매 안내 2025-10-12 ParticlePro7, M2000, M200ESC 모델 단종 안내 2024-12-27 2024 SEDEX 현장인터뷰 | 제덱스 2024-10-30 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 K-Display 2024 한국디스플레이산업전시회 2024-03-27 SPro3005 and SPro301 정보 삭제 안내 2024-02-15 2024 Web 베타판 오픈 합니다. 2024-02-07 K-Display 2023 정보디스플레이대상 협회장상 수상 2023.
2026-06-11 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다. pdf 안녕하십니까 제덱스 오염제어 솔루션 팀 입니다.첨부와 SEMI E195 챔버 파티클 검사 솔루션 보도자료 올립니다 많은 관심 부탁 드리겠습니다.감사합니다.=============================================================================== 보 도 자 료 JDX-PR-E195-2026 2026.MM.DD JEDEX(주) Contamination Control Lab press@jedex.com +82-70-8233-7766================================================================================ JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장─ 표면 입자 평가 통합 패키지 「S505 + DD Films」 공식 발표 ─ [경기 용인, 2026.MM.DD] 반도체 오염제어 전문 기업 JEDEX(주)(www.jedex.com)는SEMI E195 적합 표면 입자 평가 솔루션 라인업을 확장하여, 반도체 제조장치사(OEM/IDM)·부품 세정사·부품사·PM 서비스 사업자 등 가치사슬 4대 고객군을 통합 대응하는 패키지「S505 + DD Films」를 공식 발표했다. 이번 패키지는 SEMI E195(Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to AssessParticulate Surface Contamination on Critical Chamber Components) 가 규정하는 ARS(Adhesive Replacement Substrate) 방식을 단일 플랫폼에서 구현한다. 점착 필름으로챔버 핵심 부품(CCC) 표면의 입자를 비파괴 전사한 뒤 광학 장비로 정량 계수하며,SEMI E195 / ISO 14644-9 에 동시 적합한다. ▶ S505 주요 사양 - 상세사양 옵션에 따라 다릅니다. 별도 문의 부탁 드립니다. ▶ DD 시리즈 필름 (KR·CN·EU·JP·US·VN 6개국 특허) · 표준 권장: DD FAB-200HR (FAB 환경 등급 고점착·고청정) · 좁은 부위: DD-500HR (슬롯·홈·엣지 등 미세 부위 전용) · 분석 SW: MicroLabo Ver. 9.0.1 — Excel 즉시 출력 ▶ 4대 고객군 활용 시나리오 · 제조장치사 : 입고 검수 표준화 / OEM–Tier 1 계약상 청정도 스펙 정량 명시 · 세정사 : 세정 전후 정량 비교 / SEMI E195 보고서 출하 패키지 동봉 · 부품사 : 1~2 초 라인사이드 QC / ISO 14644-9 기반 CoA 보강 · PM 사업자 : 현장·PM 트럭 운영 / PM 직후 필름 1장으로 즉시 진단 JEDEX는 본 라인업을 시작으로 공기 중 입자 모니터링·Critical Component 검사·세정 솔루션까지 아우르는 청정도 종합 관리 포트폴리오로 단계적 확장을 이어갈계획이다. ■ JEDEX 소개 JEDEX(주)는 반도체 장비 부품의 표면·공기 입자 검출 솔루션을전문으로 하는 오염제어 기업으로, S505, DD Films, ParticlePRO, M 시리즈, MONACO등을 개발·공급한다. 본사 : 경기도 용인시 기흥구 흥덕1로 13 흥덕IT밸리 1612호. ──────────────────────────────────────────────────────────────────────────────── 문의: JEDEX(주) 오염제어연구소 press@jedex.com / +82-70-8233-7766 자료 : 제품 고해상도 사진·측정 데이터 샘플 제공 가능 / 데모 취재 협의 가능================================================================================ 2026-04-30 SEMI E195-0925 규격 적용 과 감사 말씀 SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components 고객 여러분께 드리는 감사의 말씀 제덱스(JEDEX)는 SEMI E195 표준이 제정되기 약 10년 앞선 2014년, 점착식 파티클 채집 필름과 이를 활용한 파티클 카운팅 기술의 특허를 등록하고 본격적인 상용화를 시작했습니다. 산업계의 표준이 마련되기 훨씬 이전부터 파티클 제어의 중요성을 내다보고 제덱스를 선택해주신 고객 여러분의 선견지명에 깊은 감사를 드립니다. 지난 26년간 축적해온 경험과 끊임없는 연구개발의 결실로 탄생한 제덱스의 제품은, 10여 년이라는 시간 동안 글로벌 선도 기업들의 청정 환경 관리 현장에서 검증받으며 파티클 제어 분야의 발전에 의미 있는 기여를 해왔습니다. 이 모든 성취는 제덱스 제품의 가치를 먼저 알아봐 주시고 함께 걸어와 주신 고객 여러분이 계셨기에 가능했습니다. 제덱스를 신뢰해주신 고객 여러분께서 제덱스 제품과 함께 이루어 오신 성공이 앞으로도 흔들림 없이 이어지기를 진심으로 기원합니다. 제덱스는 이에 보답하고자 업계를 선도하는 기술력을 더욱 정진시켜, 변화하는 산업 환경에 발맞춘 혁신 제품을 지속적으로 선보임으로써 고객 여러분의 든든한 동반자가 될 것을 약속드립니다. 언제나 제덱스와 함께해 주셔서 감사합니다. 2026-06-15 JEDEX, SEMI E195 적합 솔루션 라인업 확장 및 「S505 + DD Films」 발표 2026-03-05 InterBattery 2026 2025-12-08 M7000 ( 프로젝트 이름: M1000R25 버전) 출시 2025-12-04 S205 서비스 지원 종료(EoS) FAQ 2025-12-03 S205 기술지원 종료 및 보상판매 안내 2025-10-12 ParticlePro7, M2000, M200ESC 모델 단종 안내 2024-12-27 2024 SEDEX 현장인터뷰 | 제덱스 2024-10-30 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 SEDEX 2024 (제26회 반도체대전) 2024-09-26 K-Display 2024 한국디스플레이산업전시회 2024-03-27 SPro3005 and SPro301 정보 삭제 안내 2024-02-15 2024 Web 베타판 오픈 합니다. 2024-02-07 K-Display 2023 정보디스플레이대상 협회장상 수상 2023.