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Products List

T9

텀블링 파티클 시험 시스템 T9

EChuckPro

EChuckPro 2 정전척(ESC) 파티클 검사장치

FAB 공정용 장치/부품의 청정도
SG20 (단종)

이모델은 단종되었습니다. 후속 모델은 ASK 입니다.

S350LA

S350LA Surface Particle Counter for Wide Area Samples ( FOV 150 x 100 mm / count)

제조장치 청정도 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , OLEDOS 제조 공정 , 제조 장치 부품 및 유닛 청정도 평가 , 제조 장치 및 시설 클리닝, 입자 제거 , 공정중 입자 모니터링
S300 시리즈

OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터

OLEDOS 제조 공정 , Glass, Glass Wafers , 공정중 입자 모니터링
S5 Series

트레이, 캐리어, 운반도구 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 반도체 패키징, 시험 공정 , Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes , SEMI E195-0925 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates t.. , 제조장치 청정도 , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 제조 장치 부품 및 유닛 청정도 평가 , OLEDOS 제조 공정 , 제조 장치 및 시설 클리닝, 입자 제거 , 공정중 입자 모니터링 , 입자/청정도 시험 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 액중, 액조의 입자 , 반도체용 트레이, 포장재
S5MF 멤브레인필터 전용- 액체, 기체

S5MF 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수)

공정 모니터링 , 입자,청정도 시험 , 금속/비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도 시험 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , Gases , Liquids and Waters , Inks, Photoresists, Waters
SPOL2

SPOL2

Symm110 - 0.1 um

Symm110 - High Performance Surface Particle Detector

Symm130 - 0.3um

Symm130 - 고성능 표면 입자 검출기

S605 Surface Particle Counter (Portable)

Portable Surface Particle Counter

공정 모니터링 , Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes
SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 650 x 650 mm 크기 시료까지 )

재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정 모니터링 , 금속/비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , Silicon Wafers (Bare, Coated) , Glass, Glass Wafers , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 금속 표면 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 액중, 액조의 입자 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링
Slive Real Time Falling Particle Counter

Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters

T802H Helmke Drum

Particle Testing System - Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3, Self Cleaning

청정용품, 방진의류 청정도 , 2차전지 배터리
T600H Helmke Drum

T600H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3

청정용품, 방진의류 청정도
T700H Helmke Drum

T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4

청정용품, 방진의류 청정도
T1200

Particle Testing System for Cleanroom supplies (nano, sub-micron)

T802

Particle Testing System for Cleanroom supplies (sub-micron)

청정용품, 방진의류 청정도
T700 JIS 시리즈

JIS B 9923 규격에 따른 텀블링식 입자 시험기 (방진복 시험 전용)

청정용품, 방진의류 청정도
LPC-3000

반도체 부품 액상 파티클 검사 시스템 LPC-3000

M7000 / M1000R25 (new)

Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs ..,

FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes
cleani-Symm 9-AS

cleani-Surface particle removal system

FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 제조장치 클리닝 , Processing/Cleaning , 크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine)
cleani-Symm 10 Cleaner

cleani-Symm 10 Cleaner

제조장치 클리닝 , 제조장치 청정도 , Processing/Cleaning , 크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 2차전지 배터리 , 제조장치 크리닝 , 크리닝-장치표면,트레이,표면 , 제조 장치 및 시설 클리닝, 입자 제거
cleani-Symm 9

cleani-Symm 9

크린룸/청정실 크리닝 청소 , 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) , 제조장치 클리닝 , 제조장치 청정도 , 크리닝-장치표면,트레이,표면 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , 제조 장치 및 시설 클리닝, 입자 제거 , 청정용품, 방진의류 청정도
표면입자계수기 교정 표준

표면입자계수기 교정용 표준시료

표면입자계수기 교정
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