Products List S605 Surface Particle Counter Portable Surface Particle Counter Slive Real Time Falling Particle Counter Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters Symm110 - 0.1 um Symm110 - High Performance Surface Particle Detector M7000 / M1000R25 (new) Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs .., S605 Surface Particle Counter Portable Surface Particle Counter S5 Series S5 시리즈 Slive Real Time Falling Particle Counter Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters S350LA Wide Area S350LA Surface Particle Counter for Wide Area Samples SPro 자동스캔 SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm) SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 ) S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 S3 시리즈 S3 시리즈 표면입자계수기 정밀 매뉴얼 XY 스테이지를 채용하여 보다 큰 시료에 대응 SMF5멤브레인필터 전용 SMF5 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수) SPOL2 SPOL2 SMD 시리즈 (휴대형) SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기 M7000 / M1000R25 (new) Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs .., M701 M701 M801ESC M801ESC ParticlePro M3000 반도체 제조장치용 부품 파티클 검사, 청정도 평가 M3000(Parts Cleanliness Testing and Cleaning System) - Shower Head, Electrodes, Focus Ring Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 장치, 대부분의 파트류 시험 ASK OCA Films, Cover Glass - 290mm x 200 mm area /count S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 cleani-Symm 9-AS cleani-Surface particle removal system cleani-Symm 3 cleani-Symm 3 cleani-Symm 10 cleani-Symm 10 cleani-Symm 9 cleani-Symm 9 T1200 Particle Testing System for Cleanroom supplies (nano, sub-micron) T802H Helmke Drum Particle Testing System - Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3, Self Cleaning T802 Particle Testing System for Cleanroom supplies (sub-micron) T600H Helmke Drum T600H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3 cleani-Symm 9 cleani-Symm 9 T700 JIS 시리즈 JIS B 9923 규격에 따른 텀블링식 입자 시험기 (방진복 시험 전용) T700H Helmke Drum T700H Helmke Drum - IES-RP-CC 3.4 표면입자계수기 교정 표준 표면입자계수기 교정용 표준시료 S300 시리즈 OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터 M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수 Shower Head, Cathodes 파티클 감지/청정 시스템 - 반도체 FAB 장비 SG20 (단종) 이모델은 단종되었습니다. 후속 모델은 ASK 입니다. S2 시리즈 (단종) 단종된 모델입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, S5 입니다. ParticlePRO7 V1 - 본체 분리형 ParticlePRO7 V1 SMD 2018 SMD 2018년 버전으로 단종 모델 입니다. 후속 모델은 SMD Portable 입니다. S1 시리즈 (단종. 지원 종료) 단종된 모델입니다. 판매 와 사후지원이 종료된 모델 입니다. ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치 입자 계수 시스템 - 반도체 장비의 Focus ring 및 표면 부품 SM 시리즈 (단종) 단종된 모델입니다. 후속 모델은 SMF5 입니다. SMF- 필름전용 시리즈 (단종) 단종된 제품입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, ASK, SMD 시리즈 들 입니다. M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치 M2000ESC Fold product Products 휴대형 표면입자계수기 외부링크 낙하 입자 실시간 모니터링 외부링크 초미세표면입자 계수기 외부링크 새로운 장비 외부링크 표면입자계수기-S시리즈 외부링크 장치용 파트류 청정도/입자 시험 외부링크 다층구조재료 입자계수 외부링크 cleani-크리닝/입자제거 장치(마이크로,스마트) 외부링크 크린룸/청정실용 용품 청정도 평가 외부링크 시험재료/입자계수기교정시료 외부링크 OLEDoS, Glass 입자,청정도 외부링크 단종 모델들 외부링크 S605 Surface Particle Counter Slive Real Time Falling Particle Counter Symm110 - 0.1 um M7000 / M1000R25 (new) S605 Surface Particle Counter S5 Series Slive Real Time Falling Particle Counter S350LA Wide Area SPro 자동스캔 SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 S300 시리즈 S3 시리즈 SMF5멤브레인필터 전용 SPOL2 SMD 시리즈 (휴대형) M7000 / M1000R25 (new) M701 M801ESC ParticlePro M3000 반도체 제조장치용 부품 파티클 검사, 청정도 평가 Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 ASK S300 시리즈 cleani-Symm 9-AS cleani-Symm 3 cleani-Symm 10 cleani-Symm 9 T1200 T802H Helmke Drum T802 T600H Helmke Drum cleani-Symm 9 T700 JIS 시리즈 T700H Helmke Drum 표면입자계수기 교정 표준 S300 시리즈 M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수 SG20 (단종) S2 시리즈 (단종) ParticlePRO7 V1 - 본체 분리형 SMD 2018 S1 시리즈 (단종. 지원 종료) ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치 SM 시리즈 (단종) SMF- 필름전용 시리즈 (단종) M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치 Applications 반도체산업 외부링크 디스플레이 산업 외부링크 연구 시험, 품질관리 외부링크 청정실(크린룸)제어 외부링크 PCB(인쇄회로기판) 공정 외부링크 카메라 모듈/광학 제조 외부링크 VDA19,ISO16232 외부링크 2차전지 배터리 산업 외부링크 제조장치 크리닝 FAB 공정용 장치/부품의 청정도 반도체 패키징, 시험 공정 반도체용 트레이, 포장재 Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes 제조장치 청정도 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) OLEDOS 제조 공정 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거 공정중 입자 모니터링 Silicon Wafers (Bare, Coated) Glass, Glass Wafers Gases Liquids and Waters 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 표면입자계수기 교정 트레이, 캐리어, 운반도구 금속표면 금속, 비금속 입자 분류 계수 낙하입자 관리 표면입자관리 청정용품, 방진의류 청정도 크린룸/청정실 크리닝 청소 제조장치 크리닝 PCB 표면 입자, 트레이 입자 Processing/Cleaning PCB용 재료, 박판 트레이, 매거진, 포장재 Inks, Photoresists, Waters 입자/청정도 시험 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) 액중, 액조의 입자 입자,청정도 시험 공정 모니터링 크리닝-장치표면,트레이,표면 금속입자 검출 평가
Products 휴대형 표면입자계수기 외부링크 낙하 입자 실시간 모니터링 외부링크 초미세표면입자 계수기 외부링크 새로운 장비 외부링크 표면입자계수기-S시리즈 외부링크 장치용 파트류 청정도/입자 시험 외부링크 다층구조재료 입자계수 외부링크 cleani-크리닝/입자제거 장치(마이크로,스마트) 외부링크 크린룸/청정실용 용품 청정도 평가 외부링크 시험재료/입자계수기교정시료 외부링크 OLEDoS, Glass 입자,청정도 외부링크 단종 모델들 외부링크 S605 Surface Particle Counter Slive Real Time Falling Particle Counter Symm110 - 0.1 um M7000 / M1000R25 (new) S605 Surface Particle Counter S5 Series Slive Real Time Falling Particle Counter S350LA Wide Area SPro 자동스캔 SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식 S300 시리즈 S3 시리즈 SMF5멤브레인필터 전용 SPOL2 SMD 시리즈 (휴대형) M7000 / M1000R25 (new) M701 M801ESC ParticlePro M3000 반도체 제조장치용 부품 파티클 검사, 청정도 평가 Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 ASK S300 시리즈 cleani-Symm 9-AS cleani-Symm 3 cleani-Symm 10 cleani-Symm 9 T1200 T802H Helmke Drum T802 T600H Helmke Drum cleani-Symm 9 T700 JIS 시리즈 T700H Helmke Drum 표면입자계수기 교정 표준 S300 시리즈 M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수 SG20 (단종) S2 시리즈 (단종) ParticlePRO7 V1 - 본체 분리형 SMD 2018 S1 시리즈 (단종. 지원 종료) ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치 SM 시리즈 (단종) SMF- 필름전용 시리즈 (단종) M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치
Applications 반도체산업 외부링크 디스플레이 산업 외부링크 연구 시험, 품질관리 외부링크 청정실(크린룸)제어 외부링크 PCB(인쇄회로기판) 공정 외부링크 카메라 모듈/광학 제조 외부링크 VDA19,ISO16232 외부링크 2차전지 배터리 산업 외부링크 제조장치 크리닝 FAB 공정용 장치/부품의 청정도 반도체 패키징, 시험 공정 반도체용 트레이, 포장재 Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes 제조장치 청정도 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) OLEDOS 제조 공정 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거 공정중 입자 모니터링 Silicon Wafers (Bare, Coated) Glass, Glass Wafers Gases Liquids and Waters 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 표면입자계수기 교정 트레이, 캐리어, 운반도구 금속표면 금속, 비금속 입자 분류 계수 낙하입자 관리 표면입자관리 청정용품, 방진의류 청정도 크린룸/청정실 크리닝 청소 제조장치 크리닝 PCB 표면 입자, 트레이 입자 Processing/Cleaning PCB용 재료, 박판 트레이, 매거진, 포장재 Inks, Photoresists, Waters 입자/청정도 시험 크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine) 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) 액중, 액조의 입자 입자,청정도 시험 공정 모니터링 크리닝-장치표면,트레이,표면 금속입자 검출 평가
