이모델은 단종되었습니다. 후속 모델은 ASK 입니다.

Particle Testing System for Cleanroom supplies (nano, sub-micron)

Particle Testing System - Helmke Drum - IES-RP-CC 3.3, Self Cleaning

OCA Films, Cover Glass - 290mm x 200 mm area /count

표면입자계수기 교정용 표준시료

cleani-Symm 10

단종된 모델입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, S5 입니다.

Particle Testing System for Cleanroom supplies (sub-micron)

SMD 2018년 버전으로 단종 모델 입니다. 후속 모델은 SMD Portable 입니다.

단종된 모델입니다. 판매 와 사후지원이 종료된 모델 입니다.

S5 시리즈

S350LA Surface Particle Counter for Wide Area Samples

Portable Surface Particle Counter

Symm110 - High Performance Surface Particle Detector

Adhesive Replacement Substrate.

입자 계수 시스템 - 반도체 장비의 Focus ring 및 표면 부품

SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )

OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터

단종된 모델입니다. 후속 모델은 SMF5 입니다.

Parts cleanliness and particle testing system for Shower Heads, Electrodes, Electrostatic Chucks (ESC) , Robot Arms, Focus rings, Cleanroom Wipers, FOUPs ..,

S3 시리즈 표면입자계수기 정밀 매뉴얼 XY 스테이지를 채용하여 보다 큰 시료에 대응

단종된 제품입니다. 후속 모델은 SA, SPro, S3, ASK, SMD 시리즈 들 입니다.

JIS B 9923 규격에 따른 텀블링식 입자 시험기 (방진복 시험 전용)

Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters

SMF5 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수)

Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사 장치, 대부분의 파트류 시험

SPOL2

SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기