표면입자계수기-S시리즈
Jedex S 시리즈는 Jedex가 독자적으로 개발한 고감도 검출기와 검출 알고리즘을 적용하여 Machine Vision이나 AOI 장치로 검출할 수 없는 많은 수의 입자도 검출합니다.
Jedex의 특허 기술
1. 독자적 개발 검출기: 투명 반투명 Glass, Film 의 표면 또는 그 내측 레이어에 존재하는 입자에 대한 검출력이 뛰어 납니다. (특허 )
2. 하이브리드 검출방식: Jedex S 시리즈는 광산란 + 이미지 분석을 결합하여 더 많은 면적을 더 짧은 시간내에 검사할 수 있어
생산성이 매우 높습니다.
폭넓은 선택을 제공
기능별, 성능별, 폭넓은 구매 가격대의 다양한 장치 중에서 귀사에 적합한 장치를 선택 하십시요
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