청정용품, 방진의류 청정도
T 시리즈 들은 텀블링 방식 시험 장치 입니다. Symm9 은 방진의류 의 전수검사, 방진의류의 부위별 입자발생 평가에 용이합니다.
S 시리즈 들은 입자채취용 필름(점착)을 이용하여 방진의류 및 청정용품의 표면에 부착된 이물 및 대형 입자를 채취하여 계수합니다.
필요한 조건과 예산에 맞는 적합한 제품 선택을 위해
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Products List
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SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)
제조장치 청정도 , Gases , Glass, Glass Wafers , 공정 모니터링 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 입자,청정도 시험 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , Inks, Photoresists, Waters , 재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정중 입자 모니터링
![](/data/goodsImages/GOODS1_169959270120240222112129.jpg)
SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )
재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,) , 공정 모니터링 , 제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가 , 금속입자 검출 평가 , 금속, 비금속 입자 분류 계수 , 입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine ) , 입자/청정도 시험 , FAB 공정용 장치/부품의 청정도 , 트레이, 캐리어, 운반도구 , Silicon Wafers (Bare, Coated) , Glass, Glass Wafers , 필름,박판, 박막 표면의 입자 계수 , 금속표면 , PCB 표면 입자, 트레이 입자 , 낙하입자 관리 , 표면입자관리 , 청정용품, 방진의류 청정도 , 액중, 액조의 입자 , Inks, Photoresists, Waters , 공정중 입자 모니터링