- 파티클 채취용 필름
- 파티클 채취용 필름
파티클 샘플링 재료
표면 입자 및 낙하 입자를 채취하여 JEDEX S-Series 입자계수기, Microscope, SEM/EDS, LIBs, FTIR 등 분석장비로 분석하기 위한 전문 샘플링 필름 및 재료입니다.
12+
제품 라인업
5μm
입자 제어
3
국제 특허
JEDEX 투명 필름 + 표면입자계수기 — 왜 다른가?
탁월한 검출 효율
JEDEX의 투명 필름과 JEDEX 표면입자계수기의 조합은 블랙 필름이나 화이트 멤브레인 기반 방식 대비 검출 효율이 월등히 높아, 파티클 리스크를 찾아내는 데 탁월합니다.
특허 등록된 구조적 혁신
특허 등록된 뛰어난 다층 구조는 입자 채취가 매우 편리하고, 별도의 캐리어가 필요 없어 비용이 획기적으로 낮습니다. 채취 후 바로 계수기에 로드하여 분석할 수 있습니다.
투명 필름 + 계수기 조합
검출 효율 극대화
3-Layer 특허 구조
캐리어 불필요 · 비용 절감
간편한 채취 → 즉시 계수
작업 시간 단축
특허: 한국 10-1582461-0000 / 미국 9,964,480B2 / 일본 6337388
주문 생산(Custom Manufacturing) 가능
규격·사이즈·점착력·Grid 패턴 등 고객 요구에 맞춘 맞춤 제작이 가능합니다.표면 입자 샘플링 필름
평평한 표면 위의 5~5000μm 입자를 채취하여 JEDEX 입자계수기, Microscope, SEM/EDS, LIBs, FTIR 등으로 분석하는 필름입니다.
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- SEM/EDS 분석용 시료 채취
- 반도체 FAB PM 표면 검출
- Microscope 관찰 (저배율/고배율)
- LIBs, FTIR 분석장비 시료 채취
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm
레이어3
GridGreen 5×20mm, 1000μm
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- ASML 스테퍼 등 초고청정 요구 장치 PM 샘플링
- 점착제 사용 불가 환경의 표면 입자 채취
- SEM/EDS 분석용 시료 채취
- 반도체 FAB 초고청정 공정 표면 검출
사양
입자제어1μm Controlled
채취방식무점착-필름 탄성 이용
청청도초고청정(Ultra-Clean)
사이즈120×30mm(Handle 15mm + Cover 25mm
레이어3 Layers
GridGrid, 1000μm
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- Microscope 관찰 (저배율/고배율)
- SEM/EDS 분석 (Hitachi, JEOL 등)
- 일반 표면 파티클 샘플링
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Peel Off)
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 좁은 부분 표면 입자 시료 채취
- Microscope/SEM/EDS 소면적 분석
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역10×10, 10×20mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 고착성 입자 시료 채취 (강력 분리력)
- Microscope/SEM/EDS 분석용
사양
분리력강력
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 좁은 부분 고착성 입자 시료 채취
- 강력 분리력 소면적 분석
사양
분리력강력
입자5μm
영역20×30mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- Microscope 격자(Grid Cell) 분석
- 500μm Grid 정밀 위치 파악
- SEM/EDS 시료 채취
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 500μm 고밀도 (Base)
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- Particle 제거 겸용 (초고강도)
- 장비 클리닝 + 입자 분석 동시
- Microscope/SEM/EDS 분석 겸용
사양
분리력초고강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridRed 1000μm (Base)
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 블랙/근접 입자 계수 제외 시
- 밝은 색상 입자 관찰
- Microscope/SEM/EDS 분석용
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
⬇️ 낙하 입자 샘플링
챔버, 오븐, 플라즈마 등 밀폐 공간에서 낙하하는 입자를 수집하기 위한 글라스·실리콘 웨이퍼입니다.
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 챔버/고온/플라즈마 환경 입자 수집
- 반도체/디스플레이 공정 모니터링
사양
사이즈2~8인치 (100~200mm)
입자보증출하 전 보장
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 챔버/고온/플라즈마 환경 입자 수집
- 실제 공정 환경 시뮬레이션
사양
사이즈2~8인치 (100~300mm)
입자보증출하 전 보장
대면적 낙하 입자 샘플링
넓은 범위의 낙하 입자 및 공기 중 이동 입자를 채취하기 위한 광폭 대면적 전용 필름입니다.
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 넓은 범위 낙하 입자 채취 (대면적)
- 공기 중 이동 입자 채취
- 클린룸/클린벤치 모니터링
사양
분리력초고강도
영역100×150mm
사이즈212×104mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
이동체 부착형 샘플링
이동 로봇, 매거진, 파츠에 부착하여 통과 영역에서 부착된 입자를 검출합니다.
용도
- JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
- 이동 로봇/매거진/파츠에 부착
- 통과 영역 부착 입자 검출
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역50×50mm
레이어4 (Attaching Cover 포함)
표면 입자 수집 및 입자 계수 절차
평평한 표면 위의 5 ~ 5000μm 입자 | 특허 등록 구조
1
필름 준비
검출하려는 표면의 크기에 맞는 입자 수집 필름을 준비합니다.
→
2
입자 채취
필름의 접착면을 검사 대상 표면에 놓고 샘플링 스틱으로 눌러 입자를 옮깁니다.
→
3
포장·이동
보호면을 다시 부착, 포장 상자에 넣고 카운터가 있는 위치로 이동합니다.
→
4
장치 로드
필름을 S-Series 장치의 로딩 고정 장치에 로드합니다.
→
5
검출·계수
입자 검출 및 계수가 자동으로 진행됩니다.
B2B 대량 주문 · 맞춤 제작 견적
수량에 따라 별도 가격이 적용됩니다. 주문 생산도 가능합니다.