본문바로가기
Contact Us
Search
EN
Menu
Products
표면입자계수기-S시리즈
S300 시리즈
S5 series
SPro 자동스캔
SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식
S3 시리즈
SMF5멤브레인필터 전용
SPOL2
SMD 시리즈 (휴대형)
장치용파트류 청정도/입자 시험
M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수
ParticlePRO7 V1 - 본체 분리형
ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치
M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치
ParticlePro M3000 반도체 제조장치용 부품 파티클 검사, 청정도 평가
Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사
다층구조재료 입자계수
ASK
S300 시리즈
크리닝/입자제거 장치(마이크로,스마트)
Symm 9-AS
Symm 3
Symm 9
Symm 10
크린룸/청정실용 용품 청정도 평가
T1200
T802H Helmke Drum
T600H Helmke Drum
Symm 9
T700 JIS 시리즈
T700H Helmke Drum
OLEDoS, Glass 입자,청정도
S300 시리즈
시험재료/입자계수기교정시료
표면입자계수기 교정 표준
단종 모델들
SG20 (단종)
S2 시리즈 (단종)
SMD 2018
S1 시리즈 (단종. 지원 종료)
SM 시리즈 (단종)
SMF- 필름전용 시리즈 (단종)
Applications
반도체산업
제조장치 크리닝
FAB 공정용 장치/부품의 청정도
반도체 패키징, 시험 공정
반도체용 트레이, 포장재
Wafer Foups, Carriers, Shoeboxes
디스플레이 산업
제조장치 청정도
재료,Glass,Films(OCA, POL. PF. Trays,)
OLEDOS 제조 공정
제조장치 부품 및 유니트 청정도 평가
제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거
공정중 입자 모니터링
연구 시험, 품질관리
Silicon Wafers (Bare, Coated)
Glass, Glass Wafers
Gases
Liquids and Waters
필름,박판, 박막 표면의 입자 계수
표면입자계수기 교정
트레이, 캐리어, 운반도구
금속표면
금속, 비금속 입자 분류 계수
청정실(크린룸)제어
낙하입자 관리
표면입자관리
청정용품, 방진의류 청정도
크린룸/청정실 크리닝 청소
제조장치 크리닝
PCB(인쇄회로기판) 공정
PCB 표면 입자, 트레이 입자
Processing/Cleaning
PCB용 재료, 박판
트레이, 매거진, 포장재
Inks, Photoresists, Waters
카메라 모듈/광학 제조
입자/청정도 시험
크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine)
입자/청정도시험(Equipment,Tray, Carrier, Magazine )
액중, 액조의 입자
VDA19,ISO16232
입자,청정도 시험
2차전지 배터리 산업
공정 모니터링
크리닝-장치표면,트레이,표면
금속입자 검출 평가
Services
Testing Services
Consulting/Training
Dust 및 표면 파티클 진단 서비스
Company
회사개요
연혁
News
Events
Common
문의하기
Menu
KR
EN
M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치
M2000ESC
Related Products
ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치
장치용파트류 청정도/입자 시험
M2000 - 샤워헤드, 캐소드 홀 입자 계수
장치용파트류 청정도/입자 시험
Nanox 1000 - Wet 방식 부품 청정도 검사
장치용파트류 청정도/입자 시험
더 많은 정보를 원하시나요?
전문가에게 문의하십시오.
고객님의 모든 질문과 관심사에 성심성의껏 답변해 드리겠습니다.
제품 컨설팅 문의하기