장치용파트류 청정도/입자 시험
M2000ESC 정전척 검사 크리닝 장치
공정중 입자 모니터링
SMF5멤브레인필터 전용
S5 Series(deskTop)
공정중 입자 모니터링
SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식
글라스(Glass) ,투명 또는 반투명 필름 류(OCA필름, 편광필름 등)의 표면 및 내층에 존재하는 이물 및 Particle을 검출하고 계수하는 장치입니다.
공정중 입자 모니터링
SPro 자동스캔
SPro3시리즈는 공정 중 Particle 검출 및 관리 / 수입검사 / 출하검사 / 신제품 개발 등 다양한 업무에서 탁월한 성능을 발휘 합니다. 글라스(Glass) 투명 또는 반투명 필름 류(OCA필름, 편광필름 등)의 표면 및 내층에 존재하는 이물 및 Particle들을 검출하고 계수하는 장치입니다.
반도체 패키징, 시험 공정
S3 시리즈
글라스(Glass) 투명 또는 반투명 필름 류(OCA필름, 편광필름 등)의 표면 및 내층에 존재하는 이물 및 Particle을 검출하고 계수하는 장치입니다.
공정중 입자 모니터링
SMD 시리즈 (휴대형)
투명,반투명,불투명, 반사거울, 유리 및 필름 류 , PCB(Patterned, Blank) Membrane Filter (Black, White), Silicon Wafer, Glass Wafer, Sticky Mat 등 에 이르는 광범위한 시료의 입자계수.
공정중 입자 모니터링
S300 시리즈
OLEDoS 디스플레이 생산을 위한 유리, 디스플레이 플레이트에 증착된 액정, 유리 기판의 조립 상태의 파티클을 검출하고 카운팅하는 장비로, 양산에 필요한 완벽한 제품 검사 장치입니다.
크리닝(Equipment,Tray, Carrier, Magazine)
Symm 9-AS
Symm9-AS는 제품 표면, 제품 홈, 제품 구멍 표면에 강력한 가스(공기) 제트를 분사하여 강력한 제거 성능을 가진 입자를 제거하는 장비로, 세척 과정에서 제품 표면에서 분리된 입자를 감지합니다.
제조장치 및 시설 크리닝, 입자제거
Symm 10
장치용파트류 청정도/입자 시험
ParticlePRO7 부품 청정도 검사, 크리닝 장치
ParticlePRO는 강력하고 정교한 입자 계수 및 제거 시스템을 사용하는 계수 시스템을 가진,
다양한 표면에 부착된 입자를 분리하고 계수할 수 있는 특허가 있는 구조의 제품입니다.
크린룸/청정실용 용품 청정도 평가
T1200
Particle Testing System for Semiconductor and Display Industry
표면입자계수기 교정
표면입자계수기 교정 표준
표면입자계수기 교정용 표준시료
Model: CP0550 : 5 um ~ 50 um 3d patterned.
Model: CD01 : 1um deposited.
더 많은 기준은 저희에게 문의해 주시기 바랍니다.
