표면입자계수기-S시리즈

S5 Series

Slive Real Time Falling Particle Counter

S350LA Wide Area

SPro 자동스캔

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

S300 시리즈

S3 시리즈

SMF5멤브레인필터 전용

SPOL2

SMD 시리즈 (휴대형)

표면입자계수기-S시리즈

 Jedex S 시리즈는 Jedex가 독자적으로 개발한 고감도 검출기와 검출 알고리즘을 적용하여 Machine Vision이나 AOI 장치로 검출할 수 없는 많은 수의 입자도 검출합니다. 


Jedex의 특허 기술 

1. 독자적 개발 검출기: 투명 반투명 Glass, Film 의 표면 또는 그 내측 레이어에 존재하는 입자에 대한 검출력이 뛰어 납니다. (특허 )

2. 하이브리드 검출방식: Jedex S 시리즈는 광산란 + 이미지 분석을 결합하여 더 많은 면적을 더 짧은 시간내에 검사할 수 있어 

   생산성이 매우 높습니다.


폭넓은 선택을 제공

기능별, 성능별, 폭넓은 구매 가격대의  다양한 장치 중에서 귀사에 적합한 장치를 선택 하십시요



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필요한 조건과 예산에 맞는 적합한 제품 선택을 위해
전문가의 조언이 필요하시다면 당사로 문의주십시오

Products List

S5 Series

S5 시리즈

Slive Real Time Falling Particle Counter

Slive - Real Time Falling Particle Monitor / Particle Collecting by Film / Membrane filters

S350LA Wide Area

S350LA Surface Particle Counter for Wide Area Samples

SPro 자동스캔

SPro 시리즈 표면입자계수기 중형 크기 시료용 ( 최대 100x100mm)

SA 시리즈 - 고성능, 자동스캔방식

SA 시리즈 - 소형에서 부터 대형시료 (최대 300 x 300 mm 크기 시료까지 )

S300 시리즈

OLEDoS 제조를 위한 표면/유리 입자 카운터

S3 시리즈

S3 시리즈 표면입자계수기 정밀 매뉴얼 XY 스테이지를 채용하여 보다 큰 시료에 대응

SMF5멤브레인필터 전용

SMF5 시리즈 - 멤브레인 필터 표면 입자 계수기 (액체, 기체 중 입자 채취 후 계수)

SPOL2

SPOL2

SMD 시리즈 (휴대형)

SMD 시리즈 - 휴대형 표면입자 계수기

Fold product