파티클 채취용 필름
파티클 채취용 필름
JEDEX — 파티클 샘플링 재료
| Materials
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파티클 샘플링 재료

표면 입자 및 낙하 입자를 채취하여 JEDEX S-Series 입자계수기, Microscope, SEM/EDS, LIBs, FTIR 등 분석장비로 분석하기 위한 전문 샘플링 필름 및 재료입니다.

12+
제품 라인업
5μm
입자 제어
3
국제 특허

JEDEX 투명 필름 + 표면입자계수기 — 왜 다른가?

탁월한 검출 효율

JEDEX의 투명 필름과 JEDEX 표면입자계수기의 조합은 블랙 필름이나 화이트 멤브레인 기반 방식 대비 검출 효율이 월등히 높아, 파티클 리스크를 찾아내는 데 탁월합니다.

특허 등록된 구조적 혁신

특허 등록된 뛰어난 다층 구조는 입자 채취가 매우 편리하고, 별도의 캐리어가 필요 없어 비용이 획기적으로 낮습니다. 채취 후 바로 계수기에 로드하여 분석할 수 있습니다.

투명 필름 + 계수기 조합
검출 효율 극대화
3-Layer 특허 구조
캐리어 불필요 · 비용 절감
간편한 채취 → 즉시 계수
작업 시간 단축

특허: 한국 10-1582461-0000 / 미국 9,964,480B2 / 일본 6337388

주문 생산(Custom Manufacturing) 가능

규격·사이즈·점착력·Grid 패턴 등 고객 요구에 맞춘 맞춤 제작이 가능합니다.
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표면 입자 샘플링 필름
평평한 표면 위의 5~5000μm 입자를 채취하여 JEDEX 입자계수기, Microscope, SEM/EDS, LIBs, FTIR 등으로 분석하는 필름입니다.
DD-200HR100매/pack
가장 범용적인 표면 입자 샘플링 필름입니다. Microscope 저배율·고배율 관찰, SEM/EDS(Hitachi, JEOL 등), LIBs, FTIR 등 분석장비에서 시료를 채취·분석하는 일반 용도로 사용됩니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • Microscope 관찰 (저배율/고배율)
  • SEM/EDS 분석 (Hitachi, JEOL 등)
  • 일반 표면 파티클 샘플링
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Peel Off)
적용 계수기
S6S5S3SProSA3SA5
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DD-500HR100매/pack
좁은 부분의 표면 입자를 채취하기 위한 소면적 전용 모델입니다. 정밀 부품의 틈새, 작은 면적의 표면에서 파티클을 채취합니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 좁은 부분 표면 입자 시료 채취
  • Microscope/SEM/EDS 소면적 분석
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역10×10, 10×20mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm
적용 계수기
S6S5S3SProSA3SA5
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DD-200H 100매/pack
HR 시리즈 대비 강력한 분리력. 접착력이 강한 표면에 고착된 입자를 채취합니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 고착성 입자 시료 채취 (강력 분리력)
  • Microscope/SEM/EDS 분석용
사양
분리력강력
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
적용 계수기
S6S5 S3SPro SA3SA5
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DD-500H100매/pack
좁은 부분에서 고착성 입자를 채취하기 위한 강력 분리력 소면적 모델입니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 좁은 부분 고착성 입자 시료 채취
  • 강력 분리력 소면적 분석
사양
분리력강력
입자5μm
영역20×30mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
적용 계수기
S6S5S3SProSA3SA5
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DD-100100매/pack
Microscope 검사 시 격자(Grid Cell) 기반 분석에 최적화. 500μm 고밀도 Grid로 정밀 위치 파악 및 반복 관찰이 가능합니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • Microscope 격자(Grid Cell) 분석
  • 500μm Grid 정밀 위치 파악
  • SEM/EDS 시료 채취
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridGreen 500μm 고밀도 (Base)
적용 계수기
S5S3SProSA3SA5
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DD-400100매/pack
초고강도 분리력으로 Particle 제거와 샘플링을 동시에 수행하는 겸용 모델입니다. 클리닝과 분석을 한 번에 처리합니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • Particle 제거 겸용 (초고강도)
  • 장비 클리닝 + 입자 분석 동시
  • Microscope/SEM/EDS 분석 겸용
사양
분리력초고강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
GridRed 1000μm (Base)
적용 계수기
S6S5S3SProSA3SA5
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DD BLACK100매/pack
블랙 컬러 필름으로 밝은 색상의 입자 시인성을 극대화합니다. 블랙 근접 입자는 계수에서 제외됩니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 블랙/근접 입자 계수 제외 시
  • 밝은 색상 입자 관찰
  • Microscope/SEM/EDS 분석용
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역20×50mm
사이즈90×30mm, 3 Layers
적용 계수기
S6S5S3SProSA3SA5
견적 문의 →
⬇️ 낙하 입자 샘플링
챔버, 오븐, 플라즈마 등 밀폐 공간에서 낙하하는 입자를 수집하기 위한 글라스·실리콘 웨이퍼입니다.
글라스 웨이퍼별도 문의
챔버, 고온, 플라즈마, 액체 세척 욕조 등 밀폐 공간 입자 수집. 내열성·내화학성 우수. 출하 전 입자 수 보장.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 챔버/고온/플라즈마 환경 입자 수집
  • 반도체/디스플레이 공정 모니터링
사양
사이즈2~8인치 (100~200mm)
입자보증출하 전 보장
적용 계수기
S6S3SA5SA3S300SPro
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실리콘 웨이퍼별도 문의
실제 공정 웨이퍼와 동일 소재. 밀폐 환경에서 실제 공정 조건을 시뮬레이션합니다. 출하 전 입자 수 보장.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 챔버/고온/플라즈마 환경 입자 수집
  • 실제 공정 환경 시뮬레이션
사양
사이즈2~8인치 (100~300mm)
입자보증출하 전 보장
적용 계수기
S6SA5SA3S300
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대면적 낙하 입자 샘플링
넓은 범위의 낙하 입자 및 공기 중 이동 입자를 채취하기 위한 광폭 대면적 전용 필름입니다.
DD-2215H50매/pack
100×150mm 대면적 샘플링 영역의 광폭 필름. 클린룸·클린벤치 환경 모니터링에 최적화. 초고강도 점착력으로 미세 입자까지 확실하게 포집합니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 넓은 범위 낙하 입자 채취 (대면적)
  • 공기 중 이동 입자 채취
  • 클린룸/클린벤치 모니터링
사양
분리력초고강도
영역100×150mm
사이즈212×104mm, 3 Layers
GridGreen 1000μm (Base)
적용 계수기
S6 (Outer Head)SMD150SA3005S350LA
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이동체 부착형 샘플링
이동 로봇, 매거진, 파츠에 부착하여 통과 영역에서 부착된 입자를 검출합니다.
DD-AIR 707550매/pack
이동 로봇, 매거진, 파츠에 부착하여 통과 영역에서 부착된 입자를 검출. Attaching Cover 포함 4-Layer 구조입니다.
용도
  • JEDEX S-Series 입자계수기를 위한 입자 채취
  • 이동 로봇/매거진/파츠에 부착
  • 통과 영역 부착 입자 검출
사양
분리력표준강도
입자5μm
영역50×50mm
레이어4 (Attaching Cover 포함)
적용 계수기
SProSA3
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표면 입자 수집 및 입자 계수 절차

평평한 표면 위의 5 ~ 5000μm 입자 | 특허 등록 구조

1

필름 준비

검출하려는 표면의 크기에 맞는 입자 수집 필름을 준비합니다.

→
2

입자 채취

필름의 접착면을 검사 대상 표면에 놓고 샘플링 스틱으로 눌러 입자를 옮깁니다.

→
3

포장·이동

보호면을 다시 부착, 포장 상자에 넣고 카운터가 있는 위치로 이동합니다.

→
4

장치 로드

필름을 S-Series 장치의 로딩 고정 장치에 로드합니다.

→
5

검출·계수

입자 검출 및 계수가 자동으로 진행됩니다.

B2B 대량 주문 · 맞춤 제작 견적

수량에 따라 별도 가격이 적용됩니다. 주문 생산도 가능합니다.
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특허: 한국 10-1582461-0000 / 미국 9,964,480B2 / 일본 6337388

문의: clean@jedex.com | 전상희 팀장 | 070-8233-7766

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